本檢定規(guī)程適用于新制造、使用中和維修后的側(cè)面光檢驗裝置的檢定。

一、概述

    側(cè)面光檢驗裝置用于檢驗平板玻璃中存在的微小缺點，如氣泡、夾雜物、小斑點、小裂紋和粘錫等，通過測定缺點的大小，按標準確定產(chǎn)品等級，從而起到指導和控制生產(chǎn)的作用。

側(cè)面光檢驗裝置是在暗室里將較強光線經(jīng)狹縫從玻璃板缺點。

二、技術(shù)要求

1.裝置帶有銘牌（標有型號、制造廠名、出廠編號、出廠日期）、合格證及說明書。儀器不允許有影響正常工作的銹蝕、破損等缺點。

2.打開儀器光源，暗箱不露光，狹縫在密閉時也不露光，狹縫的寬度在（0～25）mm間可調(diào)，開啟及調(diào)節(jié)時無阻礙現(xiàn)象。

3.儀器光源為碘鎢燈，功率1000W。

4.光源距狹縫的距離為（100±20）mm。

5.玻璃試樣可在試樣架上移動，支腳表面光滑，轉(zhuǎn)動靈活。

6.試樣架四角高度差不大于3mm。

三、檢定條件

（一）檢定環(huán)境條件

7.儀器周圍環(huán)境整潔，溫度（10～30）℃，相對濕度 <80%。

8.電源電壓波動不應(yīng)超過±7.0%。

9.實驗室具有擋光設(shè)施

（二）檢定器具

10.鋼卷尺 量程1000mm 分度值1mm

11. 游標卡尺 量程150mm 分度值0.02mm

四、檢定項目及檢定方法

12.外觀

根據(jù)本規(guī)程1、2條的要求進行外觀檢查。

13.閱讀儀器說明書，檢驗是否滿足本規(guī)程3條的要求。

14.用游標卡尺測量光源到狹縫之間的距離，其結(jié)果應(yīng)符合本規(guī)程4條的要求。

15.用觸摸支腳方法檢驗其是否符合本規(guī)程6的要求。

16.用鋼卷尺測量試樣架四角h1 …… h4，

高度差=Maxhi-Minhi

五、檢定結(jié)果處理和檢定周期

17.經(jīng)檢定合格的側(cè)面光檢驗裝置發(fā)給檢定證書；檢定不合格者發(fā)給檢定結(jié)果通知書。

18.檢定周期為二年。