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北京雅士林試驗設備有限公司

主營:鹽霧腐蝕試驗箱,二氧化硫試驗箱,臺式恒溫恒濕試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,高低溫沖擊試驗箱,大型高低溫步入試驗室,振動試驗臺,高低溫交變濕熱試驗箱,高低溫濕熱試驗箱,高低溫試驗箱

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  • 低溫試驗箱知識普及之什么叫壓縮機的液擊?發(fā)布時間:2017-06-17

    一、什么叫液擊? 答:(1)低溫試驗箱壓縮機制冷劑因未能或未充分吸熱蒸發(fā),制冷劑液體或濕蒸汽被壓縮機吸入到壓縮機內(nèi)稱為液擊。 二、什么原因能引起低溫試驗箱壓縮機液擊? 答:(1)氣液分離器或低壓循環(huán)桶的液位控制失靈,導致液位非常高。 (2)供液量過大,供液過急。節(jié)流閥內(nèi)漏或開度過大。 (3)蒸發(fā)器或氣液分離器(低壓循環(huán)桶)存液過多、熱負荷小、開機時加載過快。 (4)熱負荷突然加大;或沖霜后未及時調(diào)整吸氣閥。 三、低溫試驗箱壓縮機液擊后會造成什么后果? 答:對于活塞機:(1)制冷劑進入壓縮機,使?jié)櫥彤a(chǎn)生大量氣泡、破壞潤滑表面的油膜,同時使油壓不 穩(wěn)定。 (2)使運動部件在沒有良好潤滑的條件下運轉(zhuǎn),導致拉毛;嚴重時抱軸、主軸瓦巴氏合 金熔化。 (3)制冷劑進入壓縮機,使氣缸套急劇冷卻收縮,抱住活塞;嚴重時損壞缸套、活塞、 連桿、活塞銷。 (4)因液體不可壓縮,連桿、活塞在潮車情況下受到的作用力遠遠超過設計值,較易引 起損壞;因液體不可壓縮,在潮車情況下,排氣閥組連同假蓋會被液體沖擊抬起;嚴重 時會導致安全彈簧變形,甚至發(fā)生撞碎機體、缸蓋,擊穿墊片而傷害人身的惡性事故。 對于螺桿機:液擊會引起振動、增加噪聲,轉(zhuǎn)子和軸承(受力過大)而受損;嚴重的液擊也會損壞設備、引起事故。文章出自北京雅士林試驗設備有限公司 [詳情]

  • 壓力繼電器在高低溫試驗箱壓縮機中的作用發(fā)布時間:2017-06-16

      在高低溫試驗箱制冷裝置中使用的壓力繼電器,按其壓力控制范圍分為低壓繼電器和高壓繼電器兩類。也有將這兩種繼電器組裝在一個殼體內(nèi),共用一個電觸頭的,構成組合式高低壓繼電器! ≡诟叩蜏卦囼炏渲评鋲嚎s機上往往裝有一個直接控制起動電路的低壓繼電器,它以壓縮機吸氣壓力為動作信號,其功用為:  1、當吸氣壓力過低時,使壓縮機自動停機,防止空氣從管路或軸封處漏入系統(tǒng),起低壓保護作用。  2、在小型高低溫試驗箱制冷裝置中,除起低壓保護外,尚可使壓縮機按調(diào)定的吸氣壓力自動起停,以保持試驗箱內(nèi)溫度穩(wěn)定,起溫度調(diào)節(jié)作用。在大、中型高低溫試驗室中,因壓縮機啟動電流非常大,所以多不用低壓繼電器來自動啟動壓縮機,因此它僅起低壓保護作用。  除此之外,在一些壓縮機上還裝有控制能量自動調(diào)節(jié)系統(tǒng)電磁闊的低壓繼電器,它可按高低溫試驗箱壓縮機的吸氣壓力的變化,來增減壓縮機的工作缸數(shù),使系統(tǒng)的蒸發(fā)溫度保持穩(wěn)定。低壓繼電器也可用作裝置中其它設備的低壓保護設備。文章出自北京雅士林試驗設備有限公司 [詳情]

  • 罪魁禍首是它 解決高低溫實驗箱噪音問題有妙招發(fā)布時間:2017-06-14

    高低溫實驗箱作為環(huán)試行業(yè)重要的成員之一,在我們試驗中扮演著十分重要的角色。然而在使用過程中,噪音卻時刻出現(xiàn)在我們的耳邊。用戶對高低溫實驗箱的靜音效果越來越關注。如何有效減弱高低溫實驗箱的噪音問題呢? 一、適當墊高高低溫實驗箱的四個角 將高低溫實驗箱墊高3-6厘米并調(diào)整四角平衡,使箱體底部空氣對流空間加大。這樣,壓縮機噪音和下部其他噪音從箱體底部出來,減少了從高低溫實驗箱兩側(cè)及上部出來的噪音。 二、壓縮機底座要上牢固 如果用手緊按壓縮機后,噪聲明顯減低,將手抬起噪聲又加大,這種情況一般是壓縮機底座固定減振膠墊受力不均或螺栓松動、壓縮機底板不牢固造成的。應調(diào)整、擰緊連接部分螺栓并更換失去彈力的墊圈。 三、管路與高低溫實驗箱箱體加固牢靠 要檢查調(diào)整外管路與箱體之間連接加固部分是否松動,從而避免高低溫實驗箱壓縮機工作時產(chǎn)生共振。為了避免松動,外管路一定要固定好,螺栓要加彈簧墊圈。文章出自北京雅士林試驗設備有限公司 http://www.bjyashilin.com/ [詳情]

  • 高低溫試驗箱對單相三級插座的要求發(fā)布時間:2017-06-13

    大家都知道高低溫試驗箱電源是380V,但根據(jù)客戶場地限制,部分高低溫試驗箱電源可改為220V,這時大家就有疑問,為什么要配備單相三級插座呢?就我國來說,電力是十分緊張,尤其是在用電高峰時期,此時電壓往往會大大的降低。在部分地區(qū)或用電低峰時,也會出現(xiàn)高達時期,甚至更高的電壓。試驗箱的電器部件如壓縮機電機等,其工作電壓范圍部有一定的要求,超過這一范圍時,會引起壓縮機工作不正常甚至燒毀。實際運行表明,壓縮機燒毀的原因大部分與電壓異常有關。 高低溫試驗箱對單相三級插座的原因: 1、單相三較插座上3個較分別為火線L零線H和接地線x,X中E由供電配電線路接到大地端,其電位與大地等電位而為零。 2、當試驗箱的電氣元件絕緣降低或失效時,將導致恒溫恒濕試驗箱金屬外殼帶電,當人體觸及其上時,會有觸電危險。因此,在高低溫試驗箱設計時,其金屬外殼與電源線插頭上的E較是相連的,一旦外殼帶電,則由E較導入大地,使外完始終保持在零電位,而不會對人體造成危害。 有的恒溫恒濕試驗箱用戶雖然也配用三較插座,但其中的E較處于懸空狀態(tài),這不符合安全要求,應另裝接地線。高低溫試驗箱說明書中強調(diào)要求接地正是從安全角度考慮的。文章來源:北京雅士林試驗設備有限公司 [詳情]

  • 不同大小的高低溫試驗箱對溫差的要求發(fā)布時間:2017-06-12

    國軍標GJB150.1標準中規(guī)定了高低溫試驗箱對溫差的要求,標準第三條:要考慮試件周圍(必要的支撐處除外)空氣的邊界效應,并應保持試件周圍溫度的均勻性。為確保試件暴露在所要求的空氣溫度下,應將傳感器布置在試件周圍有代表性的點上,并盡量靠近試件,但所測的空氣溫度不應受到試件溫度的影響。各個測量點的溫度均不應超過規(guī)定的±2℃。試件不工作時其周圍的溫度梯度不應超過1℃/m,且總溫差不應超過2.2℃。 高低溫試驗箱以下情況下溫度充差可以加大: 1、體積大于5立方米的試件,溫度允差為±3℃;若允差超過±3℃,應證明其合理性,并得到訂購方的批準; 2、當高低溫試驗箱溫度的規(guī)定值大于100℃時,其允差為±5℃。并應說明實際達到的允差。文章來源:北京雅士林試驗設備有限公司 [詳情]

  • 環(huán)境試驗箱GB/T 2423標準下載合集發(fā)布時間:2017-06-10

    本文出自北京雅士林試驗設備有限公司環(huán)境試驗箱GB/T 2423標準下載合集: GB/T 2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 術語 GB/T 2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第1部分:總則 GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗A 低溫 GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗B 高溫 GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Cab 恒定濕熱試驗 GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Db 交變濕熱(12h+12h循環(huán)) GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導則:沖擊 GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導則:碰撞 GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec和導則:傾跌與翻倒(主要用于設備型樣品) GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Ed 自由跌落 GB/T 2423.9-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Cb 設備用恒定濕熱 GB/T 2423.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Fc 振動(正弦) GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fd:寬頻帶隨機振動--一般要求 GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fda: 寬頻帶隨機振動—高再現(xiàn)性 GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fdb:寬頻帶隨機振動--中再現(xiàn)性 GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fdc:寬頻帶隨機振動--低再現(xiàn)性 GB/T 2423.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Ga 和導則:穩(wěn)態(tài)加速度 GB/T 2423.16-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J及導則:長霉 GB/T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Ka:鹽霧 GB/T 2423.18-2012 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kb 鹽霧,交變(氯化納溶液) GB/T 2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kc 接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法 GB/T 2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kd 接觸點和連接件的硫化氫試驗方法 GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗M 低氣壓 GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗N 溫度變化 GB/T 2423.23-2013 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Q:密封 GB/T 2423.24-2013 環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗Sa模擬地面上的太陽輻射及其試驗導則 GB/T 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM 低溫/低氣壓綜合試驗 GB/T 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM 高溫/低氣壓綜合試驗 GB/T 2423.27-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗 GB/T 2423.28-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗T:錫焊 GB/T 2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗U:引出端及整體安裝件強度 GB/T 2423.30-2013 環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗XA和導則:在清洗劑中浸漬 GB/T 2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗方法 GB/T 2423.32-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ta:潤濕稱量法可焊性 GB/T 2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kca 高濃度二氧化硫試驗方法 GB/T 2423.34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗ZAD 溫度濕度組合循環(huán)試驗 GB/T 2423.35-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗 GB/T 2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗方法 GB/T 2423.37-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗L 沙塵試驗 GB/T 2423.38-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗R:水試驗方法和導則 GB/T 2423.40-2013環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱 GB/T 2423.41-2013 中文標準名稱: 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 風壓 GB/T 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 低溫/低氣壓/振動(正弦) 綜合試驗方法 GB/T 2423.43-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 振動、沖擊和類似動力學試驗樣品的安裝 GB/T 2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eg:撞擊 彈簧錘 GB/T 2423.45-2012 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗ZABDM:氣候順序 GB/T 2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ef:撞擊 擺錘 GB/T 2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fg:聲振 GB/T 2423.48-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Ff振動 GB/T 2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fe:振動--正弦拍頻法 GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗Cy 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗 GB/T 2423.51-2012 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ke:流動混合氣體腐蝕試驗 GB/T 2424.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則 GB/T 2424.2-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 濕熱試驗導則 GB/T 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認 所謂環(huán)境試驗是將產(chǎn)品暴露在自然環(huán)境或人工模擬環(huán)境中,從而對它們實際上會遇到的貯存、運輸和使用條件下的性能做出評價。通過環(huán)境試驗,可提供設計質(zhì)量和產(chǎn)品質(zhì)量方面信息,這是質(zhì)量保證的重要手段。 [詳情]

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